日本KETT膜厚計LZ-373使用說明書見附件！
日本KETT膜厚計LZ-373的技術參數：
型 號 | LZ-373電磁/高頻渦流兩用式 | |
測定方式 | 電磁式 | 高頻渦流式 |
測定對象 | 磁性金屬基體上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬基體上絕緣層 |
測定范圍 | 0-2500um | 0-1200um |
測定精度 | <50um ±1um 50um-1000um ±2% 1000um以上 ±3% | |
分 辨 率 | < 100um 0.1um > 100um 1um | |
附加功能 | 1.程序選擇 2.基體修正 3.數據刪除 4.數據記憶 5.設定上下限 6.數據統計（測定次數zui大值zui小值標準偏差） 7.語言選擇（中、英、日、韓） 8.日期時間 9.自動關機設定 10.背景燈光選擇 11.背景燈光的時間設計 12.單位 13.數據輸出 | |
測頭 | 點觸式（LEP-J） | 點觸式（LHP-J） |
顯示方式 | 數字LCD顯示（背光燈可自行選擇開關） | |
數據輸出 | 記憶數據 大約3000個 電腦輸出（USB或者RS-232C）或者連接打印機（RS-232C） | |
存儲通道 | 有100通道可供選擇（兩用式各有50通道） | |
尺寸重量 | 75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34kg | |
標準配件 | 基體 標準片 4節咸性電池 測頭 皮套（4節1.5V咸性電池） | |
可選配置 | 數據管理軟件（LDL-02）數據管理軟件（McWAVE系列）不同厚度的標準片支架LW-990打印機VZ-330打印機連線及電腦連線RS-232C與USB的轉換線 | |
日本KETT膜厚計LZ-373的的圖片：
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